解密UVLED固化设备光强度测量难题，并提供专业技术支持

UVLED固化设备光强度测量问题分析

在使用UVLED固化设备时，许多客户依赖于厂商标称值作为光强度的参考标准。一些更详细的客户可能会购买专门用于测量和监视UVLED固化设备光强度的设备。然而，光强度的测量是一个常被忽略的复杂任务。

复坦希电子科技技术在产品开发、生产和实际应用过程中总结了对实际测试结果有影响的三个主要因素，供大家参考：

1. 测量高度和范围的影响 通过图1可以更准确地说明UVLED芯片的测量结果与其位置之间的差异。从测量结果可以看出，UVLED芯片的光强度可达到70W/cm2；然而，在将包装和石英玻璃分离后，在高度为5mm的位置测量时，光强度仅为4W/cm2。这种差异足以引起客户的注意。因此，事先了解所谓的光强度测试高度是非常必要的。

2. 测量工具（辐射计）的范围和阈值 图2取自复坦希电子科技点光源XP104的产品信息，清晰地说明了光强度不仅与测试高度有关，而且与测试位置也有很大关系。对于UVLED点光源而言，中心点的光强度**强，而向边缘逐渐减小。面光源的情况类似，中间位置可能相对均匀，但是边缘位置的光强度会降低。

3. 测量工具之间的差异 不同测量工具之间存在一定的差异，这也会对光强度的测量结果产生影响。因此，在选择测量工具时，需要考虑其范围和阈值等因素。

复坦希电子科技技术，致力于提供可靠的数据、事实和技术，以满足客户对UVLED固化设备光强度的需求。我们考虑了许多因素，以确保为客户提供**适合的产品。将这些细节交给我们，我们将凭借我们的技术专长为您的产品提供更好的支持。